[쿠키과학] KAIST, 반도체 성능 망치는 ‘전자 함정’ 1000배 더 정밀하게 찾는다
KAIST가 반도체 성능을 떨어뜨리는 전자 트랩을 1000배 더 민감하게 찾아내는 새로운 분석 기술을 개발했다. 전자 트랩은 반도체 결정 내부의 결함이나 불순물 등으로 생기는 일종의 '전자 함정'으로, 반도체 성능을 좌우하는 핵심 요소다. 전자가 반도체 안을 흐르다가 이 함정에 빠지면 누설 전류를 만들고 반도체 소자의 성능을 떨어뜨린다. 특히 메모리 반도체의 데이터 처리 능력을 방해하거나 태양전지의 에너지 변환 효율을 낮추는 등 소자의 신뢰성에 직접적인 영향을 미친다. 따라서 반도체 성능을 정확히 평가하려면 ... [이재형]


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